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2010, No.325(05) 490-491

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基于CMOS图像光栅传感器的位移测量系统的实现
The Design of Displacement Measurement System Based on CMOS Image Sensors in Grating Sensors

杨军平;吴欣慧;秦长海;

摘要(Abstract):

目前在科技研究、工业生产等各行业中,对于位移的高精度测量都是不可或缺的。利用光栅传感器完成测量是目前的主要方法。光栅传感器利用光电转换的原理将位移转换为电信号,该信号经过整形、细分后输出给后级电路完成对信号的处理,最后得到位移大小方向。本文在分析光栅传感器工作原理的基础上,提出借助CMOS图像传感器代替传统的硅光电池检测莫尔条纹,完成信号的细分,实现对位移的高精度测量。文中介绍了整体电路的设计和单片机系统的硬件及软件流程。

关键词(KeyWords): CMOS图像传感器;光栅传感器;测量

Abstract:

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基金项目(Foundation):

作者(Author): 杨军平;吴欣慧;秦长海;

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