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2013, No.441(13) 81+93

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关于基于存储器故障的测试算法探讨

杨四洲;

摘要(Abstract):

随着系统级芯片中存储器的比例越来越大,存储器的品质直接影响着系统级芯片的整体性能,所以存储器部分的测试就更为重要。在分析了常用的几种存储器测试算法在故障覆盖率或时间复杂度方面的局限性之后,对能够在不需增加测试时间的同时而明显提升故障覆盖率的新March测试算法进行探讨并予以验证。

关键词(KeyWords): 系统级芯片;存储器;测试;算法

Abstract:

Keywords:

基金项目(Foundation):

作者(Author): 杨四洲;

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